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Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III - ZUFIS(A))- Dozent/in
- PD Dr. Peter Pichler
- Angaben
- Vorlesung mit Übung
Präsenz
2 SWS, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 4, Sprache Deutsch
Zeit und Ort: Mo 14:15 - 15:45, BR 1.161
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
- Inhalt
- Wirtschaftlicher Erfolg beim Einsatz elektronischer Bauelemente hängt unter anderem von deren Lebensdauer ab. Zu geringe Lebensdaueren führen zu überproportionalen Garantieleistungen und Ansehensverlusten der Marke, zu hohe Lebensdauern deuten auf zu hohe Produktionskosten oder zu hohe Sicherheitsreserven hin. Neben einer Einführung in die mathematische Beschreibung von Zuverlässigeitsbetrachtungen bietet die Vorlesung eine Diskussion der relevanten Ausfallmechanismen von elektronischen Bauelementen und eine Übersicht über die Fehleranalyse an ausgefallenen Bauelementen.
(automatisch geplant, erwartete Hörerzahl original: 10, fixe Veranstaltung: nein)
- ECTS-Informationen:
- Title:
- Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits
- Credits: 4
- Zusätzliche Informationen
- Schlagwörter: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung
Erwartete Teilnehmerzahl: 10
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2022/2023:
- Halbleitertechnologie III – Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (HLT III - ZUFIS)
- Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (ZUFIS)
- Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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