Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (SemAKSH)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconducter Technology)
(Prüfungsordnungsmodul: Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie)

Lehrveranstaltungen:

• • Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie
    (Seminar, 2 SWS, Anwesenheitspflicht, Julius Marhenke, Di, 14:15 - 15:45, 0.111; Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist obligatorisch.)

Empfohlene Voraussetzungen:

Vorausgesetzt werden Kenntnisse aus den Vorlesungen Technologie Integrierter Schaltungen und/oder Prozessintegration und Bauelementearchitekturen

Inhalt:

Inhalt des Seminars ist die selbstständige Erarbeitung und schlüssige Darstellung eines Themas aus dem Gebiet der Silicium-Halbleitertechnologie. Als Grundlage dienen dabei Literaturvorgaben der Betreuer, die durch eigene Recherchen ergänzt werden sollen. Die Teilnehmer referieren im Rahmen eines 30-minütigen Vortrags über ihre Ergebnisse. Die Einzelthemen werden in jedem Semester neu gewählt.

Lernziele und Kompetenzen:

Die Studierenden

Fachkompetenz

Evaluieren (Beurteilen)

• sind in der Lage, ausgewählte Themen aus dem Themenfeld Halbleitertechnologie nach entsprechender Literaturrecherche eigenständig zu vertiefen, Sachverhalte einzuschätzen und in einem Vortrag zur präsentieren.

Lern- bzw. Methodenkompetenz

• führen eine Literaturrecherche zu wissenschaftlichen Themen durch

• können wissenschaftliche Inhlate übersichtlich darstellen

• treffen durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl
  

Selbstkompetenz

• können komplexe Sachverhalte anschaulich vor Publikum präsentieren

• sind in der Lage, technische Sachverhalte zu diskutieren

Sozialkompetenz

sind in der Lage, reflexive Diskussionsleistung bei der Präsentation der anderen Seminarteilnehmer zu erbringen

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

1. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)
   (Po-Vers. 2019w | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science) | Gesamtkonto | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik | Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Seminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (Prüfungsnummer: 78001)

Prüfungsleistung, Seminarleistung, benotet

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

weitere Erläuterungen:
Ausarbeitung + Vortrag

• 30-minütiger Vortrag (Gewichtung 67%)

• Schriftliche Ausarbeitung, Umfang ca. 10 Seiten (Gewichtung 33 %)

Erstablegung: WS 2020/20211. Wdh.: keine Wiederholung, 2. Wdh.: keine Wiederholung

1. Prüfer:

Tobias Dirnecker