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Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (ZUFIS)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits)
(Prüfungsordnungsmodul: Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen)

Modulverantwortliche/r: Peter Pichler
Lehrende: Peter Pichler


Startsemester: WS 2020/2021Dauer: 1 SemesterTurnus: jährlich (WS)
Präsenzzeit: 40 Std.Eigenstudium: 35 Std.Sprache: Deutsch

Lehrveranstaltungen:


Empfohlene Voraussetzungen:

keine, ein vorheriger Besuch der Vorlesung Halbleiterbauele-mente ist jedoch für das Verständnis empfehlenswert

Inhalt:

Neben einer Einführung in die mathematische Beschreibung von Zuverlässigeitsbetrachtungen werden im Rahmen des Moduls relevante Ausfallmechanismen von elektronischen Bauelementen und eine Übersicht über die Fehleranalyse an ausgefallenen Bauelementen diskutiert. Insbesondere werden Ausfälle und Fehlerbilder durch elektrische Überbelastung, Schäden in Dielektrika und Strahlenschäden, sowie Fehler in der Metallisierung, Kontaktierung und Verkapselung behandelt.

Lernziele und Kompetenzen:

Die Studierenden

Verstehen
  • verstehen statistische Grundlagen von Zuverlässigkeitsbetrachtungen
Anwenden
  • erklären physikalische Ausfallmechanismen in integrierten Schaltungen
  • wenden grundlegende Konzepte der Fehleranalyse an

Analysieren
  • ermitteln Gründe warum Bauelemente ausfallen sowie die Relevanz von Zuverlässigkeitsproblemen für den Entwurf
Evaluieren (Beurteilen)
  • sind in der Lage, Einflussfaktoren für die Ausfälle von ICs zu bewerten und Gegenmaßnahmen zu beurteilen


Weitere Informationen:

Schlüsselwörter: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

  1. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)
    (Po-Vers. 2019w | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science) | Gesamtkonto | Studienrichtung Mikroelektronik | Kern- und Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen)
Dieses Modul ist daneben auch in den Studienfächern "Berufspädagogik Technik (Bachelor of Science)", "Berufspädagogik Technik (Master of Education)", "Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)", "Mechatronik (Bachelor of Science)", "Mechatronik (Master of Science)" verwendbar. Details

Studien-/Prüfungsleistungen:

Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen_ (Prüfungsnummer: 68101)
Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet
Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

Erstablegung: WS 2020/2021, 1. Wdh.: SS 2021, 2. Wdh.: keine Wiederholung
1. Prüfer: Peter Pichler

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