Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik (Prüfungsordnungsmodul)5 ECTS
(englische Bezeichnung: Microtechnology, Nanotechnology and Computer-Aided Metrology)

Stand der importierten Daten ("mein campus"-Datenabzug): 10.06.2015 12:04

Zuordnung zu Studiengängen, Validierung, Einpassung in die Musterstudienpläne:

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:einblenden

1. Berufspädagogik Technik (Master of Education): 3-4. Semester
   (Po-Vers. 2010 | Studienrichtung Metalltechnik (Masterprüfungen) | Wahlpflichtmodule Fachwissenschaft | Wahlpflichtmodule (Vertiefungsmodule) | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
2. Maschinenbau (Master of Science): 2. Semester
   (Po-Vers. 2007 | Studienrichtungen Allgemeiner Maschinenbau, Fertigungstechnik, und Rechnergestützte Produktentwicklung | Masterprüfung | Studienrichtung Allgemeiner Maschinenbau | Wahlpflicht-/Vertiefungsbereich in der Studienrichtung Allgemeiner Maschinenbau | Modulgruppe 6.1 Qualitätsmanagement und Messtechnik | Vertiefungsmodul 6.1 | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
3. Maschinenbau (Master of Science): 2. Semester
   (Po-Vers. 2007 | Studienrichtungen Allgemeiner Maschinenbau, Fertigungstechnik, und Rechnergestützte Produktentwicklung | Masterprüfung | Studienrichtung Allgemeiner Maschinenbau | Wahlpflicht-/Vertiefungsbereich in der Studienrichtung Allgemeiner Maschinenbau | Modulgruppe 6.1 Qualitätsmanagement und Messtechnik | Vertiefungsmodul 6.1 | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
4. Maschinenbau (Master of Science): 2. Semester
   (Po-Vers. 2007 | Studienrichtungen Allgemeiner Maschinenbau, Fertigungstechnik, und Rechnergestützte Produktentwicklung | Masterprüfung | Studienrichtung Fertigungstechnik | Wahlpflicht-/Vertiefungsbereich in der Studienrichtung Fertigungstechnik | Modulgruppe 6.1 Qualitätsmanagement und Messtechnik | Vertiefungsmodul 6.1 | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
5. Maschinenbau (Master of Science): 2. Semester
   (Po-Vers. 2007 | Studienrichtungen Allgemeiner Maschinenbau, Fertigungstechnik, und Rechnergestützte Produktentwicklung | Masterprüfung | Studienrichtung Fertigungstechnik | Wahlpflicht-/Vertiefungsbereich in der Studienrichtung Fertigungstechnik | Modulgruppe 6.1 Qualitätsmanagement und Messtechnik | Vertiefungsmodul 6.1 | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
6. Maschinenbau (Master of Science): 2. Semester
   (Po-Vers. 2007 | Studienrichtungen Allgemeiner Maschinenbau, Fertigungstechnik, und Rechnergestützte Produktentwicklung | Masterprüfung | Studienrichtung Rechnergestützte Produktentwicklung | Wahlpflicht-/Vertiefungsbereich in der Studienrichtung Rechnergestützte Produktentwicklung | Modulgruppe 6.1 Qualitätsmanagement und Messtechnik | Vertiefungsmodul 6.1 | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
7. Maschinenbau (Master of Science): 2. Semester
   (Po-Vers. 2007 | Studienrichtungen Allgemeiner Maschinenbau, Fertigungstechnik, und Rechnergestützte Produktentwicklung | Masterprüfung | Studienrichtung Rechnergestützte Produktentwicklung | Wahlpflicht-/Vertiefungsbereich in der Studienrichtung Rechnergestützte Produktentwicklung | Modulgruppe 6.1 Qualitätsmanagement und Messtechnik | Vertiefungsmodul 6.1 | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
8. Mechatronik (Bachelor of Science): 5-6. Semester
   (Po-Vers. 2007 | Wahlpflichtmodule (für alle Studierende des Bachelorstudiums, die vor 01. Oktober 2012 Wahlpflichtmodule begonnen haben) | Wahlpflichtmodule | Katalog | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
9. Mechatronik (Bachelor of Science): 5-6. Semester
   (Po-Vers. 2009 | Wahlpflichtmodule (für alle Studierende des Bachelorstudiums, die vor 01. Oktober 2012 Wahlpflichtmodule begonnen haben) | Wahlpflichtmodule | Katalog | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)
10. Mechatronik (Master of Science): 1-3. Semester
    (Po-Vers. 2010 | Vertiefungsrichtungen | Qualitätsmanagement und Messtechnik | Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Mikro-, nano- und rechnergestützte Messtechnik (Prüfungsnummer: 73151)
(englische Bezeichnung: Microtechnology, Nanotechnology and Computer-Aided Metrology)

Prüfungsleistung, Klausur, Dauer: 120 min, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

pordnr: 40849, pmaxver: 3, pmaxvbe: 1

UnivIS-Module:

UnivIS-Module im aktuellen Semester (SS 2015):

• Mikro-, Nano- und rechnergestützte Messtechnik (5 ECTS, Hausotte, T.)