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Seminar Entwurf und Zuverlässigkeit Integrierter Schaltungen und Systeme (SemEuZ)2.5 ECTS (englische Bezeichnung: Seminar Design and Reliability of Integrated Circuits and Systems)
Modulverantwortliche/r: Sebastian M. Sattler Lehrende:
Sebastian M. Sattler
Studienfächer/Prüfungsordnungsmodule:
Einfrieren der UnivIS-Modul-Beschreibung: 15.8.2017
Hauptseminare Mikroelektronik (30323)
Hauptseminare Mikroelektronik (34703)
M6 Hauptseminar (40953)
Startsemester: |
WS 2017/2018 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
halbjährlich (WS+SS) |
Präsenzzeit: |
15 Std. | Eigenstudium: |
60 Std. | Sprache: |
Deutsch und Englisch |
Lehrveranstaltungen:
Empfohlene Voraussetzungen:
Besuch von Entwurf Integrierter Schaltungen I und/oder IIEs wird empfohlen, folgende Module zu absolvieren, bevor dieses Modul belegt wird:
Entwurf Integrierter Schaltungen II (SS 2017)
Entwurf Integrierter Schaltungen I (WS 2016/2017)
Inhalt:
Inhalt des Seminars sind wissenschaftlich und technologisch aktuelle Themen der Lehr- und Forschungsgebiete des LZS:
Alle Ebenen des Entwurfs Integrierter Schaltungen oder Systeme
Modellierung, Simulation und Test Integrierter Schaltungen
Algorithmen, Methoden und Werkzeuge für den rechnergestützten Entwurf
Anwendungen von Integrierten Schaltungen und Mikrosystemen
Lernziele und Kompetenzen:
Fachkompetenz
Evaluieren (Beurteilen)
in der Lage sein, ausgewählte Themen aus dem Themenfeld Mikroelektronik nach entsprechender Literaturrecherche eigenständig zu vertiefen, die Sachverhalte zu beurteilen und diese in einem Vortrag zu präsentieren
Lern- bzw. Methodenkompetenz
Selbstkompetenz
Bemerkung:
Anmeldung im Sekr. des LZS, Röthelheim-Campus, Paul-Gordan-Str. 5, Tel. 85-23100, mailto:lzs-sek@fau.de
Weitere Informationen:
www: http://www.lzs.eei.uni-erlangen.de/seminare/semeuz
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan: Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science): 5-6. Semester
(Po-Vers. 2009 | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science) | Studienrichtungen | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik)
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science): 1-4. Semester
(Po-Vers. 2010 | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik)
- Mechatronik (Master of Science): 3. Semester
(Po-Vers. 2012 | TechFak | Mechatronik (Master of Science) | M6 Hauptseminar | M6 Hauptseminar)
Studien-/Prüfungsleistungen:
Seminar Entwurf und Zuverlässigkeit Integrierter Schaltungen und Systeme (Prüfungsnummer: 935856)
zugeh. "mein campus"-Prüfung: | - 17741 Hauptseminar Mikroelektronik (Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) 2010, Prüfung, Form: Seminarleistung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Platzhalter).
- 17741 Hauptseminar Mikroelektronik (Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) 2010, Prüfung, Form: Seminarleistung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Platzhalter).
- 17401 Hauptseminar (2,5 ECTS) (Mechatronik (Master of Science) 2012, Prüfung, Form: Studienleistung, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 2.5 ECTS, Platzhalter).
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- Prüfungsleistung, Seminarleistung, Dauer (in Minuten): 35, benotet
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- weitere Erläuterungen:
- Erarbeitung des gestellten Themas innerhalb von 6 Wochen unter Anleitung eines Betreuers
Erstellung einer mind. 10-seitigen Zusammenfassung des Seminarthemas
Seminarvortrag von 35-40 Min. Dauer und anschließende Diskussion des Themas
Anteil an der Berechnung der Modulnote: 30% Vortrag, 70% Ausarbeitung
- Erstablegung: WS 2017/2018, 1. Wdh.: SS 2018, 2. Wdh.: keine Wiederholung
1. Prüfer: | Sebastian M. Sattler (100270) |
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