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Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)
- Dozentinnen/Dozenten
- Hananeh Aliee, M. Sc., Faramarz Khosravi, M. Sc., Dr.-Ing. Stefan Wildermann
- Angaben
- Seminar
, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5,0, Sprache Englisch
Zeit und Ort: n.V.; Bemerkung zu Zeit und Ort: n.V., Initial session will be in the 2nd week of the semester. Further details will be sent in an email to the registered participants.
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WPF I2F-BA-S 5
WPF I2F-BA ab 4
WF IuK-MA ab 1
WF IuK-BA ab 4
WPF CE-MA-SEM ab 1
WPF INF-MA ab 1
- ECTS-Informationen:
- Credits: 5,0
- Zusätzliche Informationen
- www: http://www12.informatik.uni-erlangen.de/edu/reliability_sem
Für diese Lehrveranstaltung ist eine Anmeldung erforderlich. Die Anmeldung erfolgt von Montag, 1.8.2016, 0:00 Uhr bis Sonntag, 30.10.2016, 23:59 Uhr über: mein Campus.
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2016/2017:
- Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)
- Institution: Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)
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