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Pattern Analysis (PA)5 ECTS (englische Bezeichnung: Pattern Analysis)
Modulverantwortliche/r: Andreas Maier Lehrende:
Christian Riess
Startsemester: |
SS 2019 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
jährlich (SS) |
Präsenzzeit: |
60 Std. | Eigenstudium: |
90 Std. | Sprache: |
Englisch |
Lehrveranstaltungen:
Empfohlene Voraussetzungen:
Es wird empfohlen, folgende Module zu absolvieren, bevor dieses Modul belegt wird:
Pattern Recognition (WS 2018/2019)
Inhalt:
Based on the lecture Pattern Recognition, this lecture introduces the design of pattern analysis systems as well as the corresponding fundamental mathematical methods.
The lecture comprises:
an overview over regression and classification, in particular the method of least squares and the Bayes classifier
clustering methods: soft and hard clustering
classification and regression trees and forests
parametric and non-parametric density estimation: maximum-likelihood (ML) estimation, maximum-a-posteriori (MAP) estimation, histograms, Parzen estimation, relationship between folded histograms and Parzen estimation, adaptive binning with regression trees
mean shift algorithm: local maximization using gradient ascent for non-parametric probability density functions, application of the mean shift algorithm for clustering, color quantization, object tracking
linear and non-linear manifold learning: curse of dimensionality, various dimensionality reduction methods: principal component analysis (PCA), local linear embedding (LLE), multidimensional scaling (MDS), isomaps, Laplacian eigenmaps
Gaussian mixture models (GMM) and hidden Markov models (HMM): expectation maximization algorithm, parameter estimation, computation of the optimal sequence of states/Viterbi algorithm, forward-backward algorithm, scaling
Bayesian networks
Markov random fields (MRF): definition, probabilities on undirected graphs, Hammersley-Clifford theorem, cliques, clique potentials, examples for MRF-based image pre-processing and processing of image sequences
Markov random fields and graph cuts: sub-modular functions, global optimization with graph cut algorithms, application examples
Aufbauend auf der Vorlesung Pattern Recognition führt die Vorlesung in das Design von Musteranalysesystemen sowie die zugrundeliegenden mathematischen Methoden ein.
Die Vorlesung umfasst im Einzelnen:
Überblick über Regression und Klassifikation, insbesondere die Methode der kleinsten Fehlerquadrate und der Bayes-Klassifikator
Clustering-Methoden: Soft- und Hard-Clustering
Klassifikations- und Regressionsbäume/-wälder
parametrische und nicht-parametrische Dichteschätzung: Verfahren sind ML- und MAP-Schätzung, Histogramme, Parzenschätzung, Zusammenhang gefaltete Histogramme und Parzenschätzung, adaptives Binning mit Regressionsbäumen.
'Mean Shift'-Algorithmus: lokale Maximierung durch Gradientenaufstieg bei nicht-parametrischen Dichtefunktionen, Anwendungen des 'Mean Shift'-Algorithmus zum Clustering, Farbquantisierung und Objektverfolgung
Linear and Non-Linear Manifold Learning: Curse of Dimensionality, Verschiedene Methode zur Dimensionsreduktion: Principal Component Analysis (PCA), Local Linear Embedding (LLE), Multidimensionsional Scaling (MDS), Isomap, Laplacian Eigenmaps
Gaußsche Mischverteilungsmodelle (GMM) und Hidden-Markov-Modelle (HMM): 'Expectation Maximization'-Algorithmus, Parameterschätzung, Bestimmung der optimalen Zustandsfolge/Viterbi-Algorithmus, Vorwärts-Rückwärts-Algorithmus, Skalierung
Bayes-Netze
Markov-Zufallsfelder: Definition, Wahrscheinlichkeiten auf ungerichteten Graphen, Hammersley-Clifford-Theorem, Cliquen, Cliquen-Potenziale, Beispiele zur MRF-basierten Bildvorverarbeitung und Bildfolgenverarbeitung
Markov Random Fields und Graph Cuts: submodulare Funktionen, globale Optimierung mit 'Graph Cut'-Algorithmen, Anwendungsbeispiele
Lernziele und Kompetenzen:
The students
explain the discussed methods for classification, prediction, and analysis of patterns,
define regression and classification tasks as optimization problems,
compare and analyze methods for manifold learning and select a suited method for a given set of features and a given problem,
compare and analyze methods for probability density estimation and select a suited method for a given set of features and a given problem,
apply non-parametric probability density estimation to pattern analysis problems,
apply dimensionality reduction techniques to high-dimensional feature spaces,
explain statistic modeling of feature sets and sequences of features,
explain statistic modeling of statistical dependencies,
implement presented methods in MatLab or Python,
supplement autonomously the mathematical foundations of the presented methods by self-guided study of the literature,
discuss the social impact of applications of pattern analysis solutions.
Die Studierenden
erläutern die behandelten Methoden zur Klassifikation, Vorhersage und Analyse von Mustern,
formulieren Regressions- und Klassifikationsproblemen als Optimierungsaufgaben,
vergleichen und analysieren Methoden des Manifold Learning und wählen für eine vorgegebene Fragestellung eine geeignete Methode aus,
vergleichen und analysieren Methoden zur Dichteschätzung und wählen für eine vorgegebene Fragestellung eine geeignete Methode aus,
wenden nicht-parametrische Dichteschätzung auf Probleme der Musteranalyse an,
wenden Dimensionsreduktion bei hochdimensionalen Merkmalsräumen an,
erläutern statistische Modellierung von Merkmalsmengen und Merkmalsfolgen,
erklären statistische Modellierung abhängiger Größen,
implementieren vorgestellte Verfahren in MatLab oder Python.
ergänzen eigenständig mathematische Grundlagen der präsentierten Methoden durch selbstbestimmtes Studium der Literatur
diskutieren die gesellschaftlichen Auswirkungen von Anwendungen der Musteranalyse
Literatur:
- Richard O. Duda, Peter E. Hart und David G. Stork: Pattern Classification, Second Edition, 2004
Christopher Bishop: Pattern Recognition and Machine Learning, Springer Verlag, Heidelberg, 2006
Antonio Criminisi and J. Shotton: Decision Forests for Computer Vision and Medical Image Analysis, Springer, 2013
Kevin P. Murphy: Machine Learning: A Probabilistic Perspective, MIT Press, 2012
papers referenced in the lecture
Weitere Informationen:
Schlüsselwörter: pattern recognition, pattern analysis
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan: Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:
- Informatik (Master of Science)
(Po-Vers. 2010 | TechFak | Informatik (Master of Science) | Wahlpflichtbereich | Säule der anwendungsorientierten Vertiefungsrichtungen | Vertiefungsrichtung Mustererkennung)
Studien-/Prüfungsleistungen:
Pattern Analysis (Prüfungsnummer: 41201)
(englischer Titel: Oral Examination on Pattern Analysis)
- Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet, 5.0 ECTS
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- Erstablegung: SS 2019, 1. Wdh.: WS 2019/2020, 2. Wdh.: keine Wiederholung
1. Prüfer: | Christian Riess |
- Termin: 21.10.2020, 11:00 Uhr, Ort: Tentoria
Termin: 29.03.2021, 11:00 Uhr, Ort: H 11Termin: 21.10.2020, 11:00 Uhr, Ort: Tentoria
Termin: 29.03.2021, 11:00 Uhr, Ort: H 11
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