UnivIS Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg - Semester: SS 2009
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Optical Metrology

Application of X-Ray in Metrology

VORL; 2 SWS; Einzeltermin am 8.7.2009, 18:00 - 20:30, AOT-Kursraum; Blockveranstaltung 10.7.2009-11.7.2009 Mo-Fr, Sa, So, 10:00 - 17:00, AOT-Kursraum; Einzeltermine am 13.7.2009, 14.7.2009, 18:00 - 20:30, AOT-Kursraum
  Leipertz, A.  

Laser Raman Techniques for Optical Metrology [OM/LRT]

V/UE; 4 SWS; ECTS: 5; Fr, 13:00 - 15:00, AOT-Kursraum; Mi, 16:00 - 18:00, AOT-Kursraum; ab 29.4.2009
  Kiefer, J.  

Light Scattering

V/UE; 4 SWS; ECTS: 5; Fr, 10:00 - 12:00, AOT-Kursraum; Mi, 14:00 - 16:00, AOT-Kursraum; ab 22.4.2009
  Fröba, A.  

Optical Manufacturing Metrology [OMM]

VORL; Di, 8:30 - 10:00, SR QFM; ab 21.4.2009
WPF AOT-GL ab 2 Weckenmann, A.  

Seminar Optical Manufacturing Metrology [SEM OMM]

SEM; 2 SWS; Einzeltermin am 20.7.2009, 16:00 - 20:00, K1; Vorbesprechung: 20.4.2009, 16:00 - 18:00 Uhr, K1
WPF AOT-GL ab 2 Weckenmann, A.  

   

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