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Mustererkennung
	Mustererkennung 2 [ME2] VORL; 3 SWS; ben. Schein; ECTS: 6; Mo, 10:00 - 12:00, H10; Di, 14:00 - 15:00, H10	Niemann, H.
	Übungen zu Mustererkennung 2 [ME2-Ueb] UE; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 2; Mo, 16:00 - 16:45, 09.150; Di, 15:15 - 16:00, H10; ab 14.4.2003	Schmidt, J.
	Industrielle Bildverarbeitung [IBV] VORL; 2 SWS; Mi, 16:00 - 18:00, 09.150	Wittenberg, Th.
	Probabilistic Modeling of Sequences [ProFo] VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 4; Do, 8:30 - 10:00, 09.150	Denzler, J.
	Rechnersehen mit Anwendungen in der Augmented Reality sowie beim bildbasierten Rendering I [vhblme1] SL; 2 SWS; Schein; vom 2.6.2003 bis zum 13.6.2003; 14-tägiger Kompaktkurs im Juni 2003; Vorbesprechung: 28.5.2003, 12:30 - 13:00 Uhr, 09.150	Schmidt, J. u.a.

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