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Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (SemAKSH)2.5 ECTS (englische Bezeichnung: Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconducter Technology)
(Prüfungsordnungsmodul: Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik)
Modulverantwortliche/r: Lothar Frey Lehrende:
Lothar Frey
weitere Studienfächer/Prüfungsordnungsmodule:
Einfrieren der UnivIS-Modul-Beschreibung: 1.3.2017
Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (23437)
Hauptseminare Mikroelektronik (30323)
Hauptseminare Mikroelektronik (34703)
Startsemester: |
SS 2017 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
halbjährlich (WS+SS) |
Präsenzzeit: |
30 Std. | Eigenstudium: |
45 Std. | Sprache: |
Deutsch und Englisch |
Lehrveranstaltungen:
Empfohlene Voraussetzungen:
Kenntnisse aus den Vorlesungen Technologie Integrierter Schaltungen und/oder Prozessintegration und Bauelementearchitektur wünschenswert und von Vorteil
Inhalt:
Inhalt des Seminars ist die selbstständige Erarbeitung und schlüssige Darstellung eines Themas aus dem Gebiet der Silicium-Halbleitertechnologie. Als Grundlage dienen dabei Literaturvorgaben der Betreuer, die durch eigene Recherchen ergänzt werden sollen. Die Teilnehmer referieren im Rahmen eines 30-minütigen Vortrags über ihre Ergebnisse. Die Einzelthemen werden in jedem Semester neu gewählt.
Lernziele und Kompetenzen:
Die Studierenden
- Fachkompetenz
- Evaluieren (Beurteilen)
- sind in der Lage, ausgewählte Themen aus dem Themenfeld Halbleitertechnologie nach entsprechender Literaturrecherche eigenständig zu vertiefen, Sachverhalte einzuschätzen und in einem Vortrag zur präsentieren.
- Lern- bzw. Methodenkompetenz
- führen eine Literaturrecherche zu wissenschaftlichen Themen durch
können wissenschaftliche Inhlate übersichtlich darstellen
treffen durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl
- Selbstkompetenz
-
Literatur:
Organisatorisches:
Teilnahme an Vorbesprechung notwendig
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
(Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Masterprüfung | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik)
Dieses Modul ist daneben auch in den Studienfächern "Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)" verwendbar. Details
Studien-/Prüfungsleistungen:
Seminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (Prüfungsnummer: 78001)
zugeh. "mein campus"-Prüfung: | - 17741 Hauptseminar Mikroelektronik (Prüfung, Form: Seminarleistung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Platzhalter).
- 78001 Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (Gewichtung: 100.0 %, Prüfung, Form: mehrteilige Prüfung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Prüfung).
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- Prüfungsleistung, Seminarleistung, benotet, 2.5 ECTS
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- weitere Erläuterungen:
Ausarbeitung + Vortrag
- Erstablegung: SS 2017, 1. Wdh.: WS 2017/2018, 2. Wdh.: keine Wiederholung
1. Prüfer: | Lothar Frey (100254) |
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