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Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (PW-NanoScan)5 ECTS (englische Bezeichnung: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)
(Prüfungsordnungsmodul: Physikalische Wahlfächer)
Modulverantwortliche/r: Sabine Maier Lehrende:
Sabine Maier
weitere Studienfächer/Prüfungsordnungsmodule:
Physikalische Wahlfächer (32647)
Physikalische Wahlfächer (34267)
Weitere Module aus dem Wahlpflichtbereich 1 (38034)
Materialphysikalisches Wahlfach (43483)
Materials physics elective course (80899)
Physics elective courses (80959)
Startsemester: |
WS 2018/2019 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
unregelmäßig |
Präsenzzeit: |
60 Std. | Eigenstudium: |
90 Std. | Sprache: |
Englisch |
Lehrveranstaltungen:
Inhalt:
Contents:
1. Introduction in various scanning probe microscopy techniques:
Scanning tunneling microscopy (STM)
Atomic force microscopy (AFM)
Kelvin probe force microscopy (KPFM)
Conductive atomic force microscopy (cAFM)
Scanning Near-field microscopy (SNOM)
2. Introduction to Nanophyics based on scanning probe experiments:
Lernziele und Kompetenzen:
Learning goals and competences:
Students
Literatur:
Literature:
1. B. Voigtländer, Scanning Probe Micorsocpy, Springer 2015
2. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
3. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004
More references will be provided in the class.
Bemerkung:
May be applied to specialisation 'Condensed matter physics' in the physics master program starting winter term 2018/19.
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:
- Physik (Bachelor of Science): ab 5. Semester
(Po-Vers. 2018w | NatFak | Physik (Bachelor of Science) | Bachelorprüfung | Physikalische Wahlfächer)
Dieses Modul ist daneben auch in den Studienfächern "642#65#H", "Materialphysik (Bachelor of Science)", "Materials Physics (Master of Science)", "Physics (Master of Science)", "Physik (1. Staatsprüfung für das Lehramt an Gymnasien)", "Physik (Master of Science)", "Physik mit integriertem Doktorandenkolleg (Bachelor of Science)", "Physik mit integriertem Doktorandenkolleg (Master of Science)" verwendbar. Details
Studien-/Prüfungsleistungen:
Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (Prüfungsnummer: 822950)
(englischer Titel: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)
zugeh. "mein campus"-Prüfung: | - 63501 Physikalisches Wahlfach (Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
- 63501 Physikalisches Wahlfach (Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
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- Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- Prüfungssprache: Englisch
- Erstablegung: WS 2018/2019, 1. Wdh.: WS 2018/2019 (nur für Wiederholer)
1. Prüfer: | Sabine Maier (060557) |
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UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
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