• Erkennen und Klassifizieren von Symmetrien eindimensionaler, zweidimensionaler und dreidimensionaler Strukturen
  

• Bestimmung der Punktgruppen und Raumgruppen
  

• Einfache Berechnungen struktureller Merkmale von Kristallen wie Bindungsabständen und Bindungswinkeln in allen Krisallsymmetrien.
  

• Der Zusammenhang zwischen direktem Raum und reziprokem Raum und Rechnungen in beiden Vektorräumen
  

• Anwendungen der Grundgleichungen der Beugungstheorie
  

• die Anwendung der Ewaldkonstruktion als Beschreibung der Beugung an periodischen Strukturen.
  

• die Auswertung von Pulverbeugungsdiagrammen von der Reflexlagenbestimmung, über die Indizierung der Bragg Reflexe bis zur Bestimmung der Gittermetrik.
  

• einfache Strukturfaktorrechnungen und Intensitätsberechnungen von Röntgenbeugungsreflexen.

Die Vermittlung der Symmetrielehre basiert wesentlich auf den Inhalten des Buchs:

M. Julian, Foundations of Crystallography with Computer Applications CRC Press Inc.

Hilfreich ist auch:

D. E. Sands, Introduction to Crystallography, Dover Publications Inc.

Die Grundlagen der Streutheorie finden Sie z.B. gut vermittelt in:

B. E. Warren, X-Ray Diffraction, Dover Publications Inc.

D. S. Siva, Elementary Scattering Theory, Oxford University Press

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