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Vorlesungsverzeichnis >> Naturwissenschaftliche Fakultät (Nat) >>
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Nanophysics using Scaning Probe Microscopy- Dozent/in
- Prof. Dr. Sabine Maier
- Angaben
- Vorlesung
, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5, Sprache Englisch
Zeit und Ort: Mi 13:30 - 15:00, TL 1.140
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF Ph-BA ab 5
WF Ph-MA ab 1
WF PhM-BA ab 5
WF PhM-MA ab 1
- Inhalt
- 1. Introduction in various scanning probe microscopy techniques:
Scanning tunneling microscopy (STM) Atomic force microscopy (AFM) Kelvin probe force microscopy (KPFM) Conductive atomic force microscopy (cAFM) Scanning Near-field microscopy (SNOM)
2. Introduction to Nanophyics based on scanning probe experiments:
- Empfohlene Literatur
- 1. B. Voigtländer, Scanning Probe Micorsocpy, Springer 2015
2. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
3. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004
More references will be provided in the class.
- ECTS-Informationen:
- Credits: 5
- Zusätzliche Informationen
- Zugeordnete Lehrveranstaltungen
- UE: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy - Exercises
-
Dozent/in: Prof. Dr. Sabine Maier
Zeit und Ort: Mi 15:00 - 16:00, TL 1.140
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2018/2019:
- Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (PW-NanoScan)
- Institution: Professur für Experimentalphysik (Rastersondenmikroskopie) (Prof. Dr. Maier)
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