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Hochfrequenzmesstechnik (HFM)- Dozentinnen/Dozenten
- Dr.-Ing. Jan Schür, Akad. Dir., Prof. i.R. Dr.-Ing. habil. Siegfried Martius
- Angaben
- Vorlesung mit Übung
4 SWS, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5
nur Fachstudium, Sprache Deutsch
Zeit und Ort: Fr 8:30 - 11:30, HF-Technik: SR 5.14
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
- Voraussetzungen / Organisatorisches
- Wegen der Corona-Pandemie werden alle Vorlesungen und Übungen zunächst ausschließlich über Online-Angebote durchgeführt.
Alle Informationen, Vorlesungs- und Übungsaufzeichnungen/Webinare und Materialein stehen auf StudOn zur Verfügung.
Bitte treten Sie dafür dem StudOn-Kurs „LHFT - Hochfrequenzmesstechnik“ bei. Zur Info: Aushang zum SS 20
- Inhalt
- Die Messtechnik hat für die Tätigkeiten in der Forschung, Entwicklung und Fertigung eine ganz besondere Bedeutung. Sie dient der Verifikation von Praxis und Theorie bei der Entwicklung neuer Geräte und Verfahren sowie bei der Einhaltung technischer Parameter während der Fertigung der Geräte.
Die Herausforderungen der Messtechnik, vor allem bei hohen Frequenzen, haben zur Folge, dass ein Großteil der Arbeitszeit aufgewendet werden muss, um Lösungen für messtechnische Fragestellungen und Probleme zu erarbeiten. Im Anwendungsbereich der Hochfrequenztechnik wirken alle elektrodynamischen Erscheinungen. Aus diesem Grund unterscheidet sich die Hochfrequenzmesstechnik grundlegend von der Messtechnik im Gleich- und Wechselspannungsbereich. Insbesondere sind die geometrischen Abmessungen der Schaltungen und Bauteile in der Größenordnung oder sogar sehr viel größer als die Wellenlänge. Schaltkapazitäten und -induktivitäten bspw. spielen eine entscheidende Rolle in der Verbindungstechnik, Skineffekt, Laufzeiten, Verkopplung und Abstrahlung, wellenwiderstandsrichtige Anpassung sind nur einige Herausforderungen, die an die Hochfrequenzmesstechnik gestellt werden.
- Empfohlene Literatur
- Thumm, M., Wiesbeck, W., Kern, S.: Hochfrequenzmeßtechnik. B.G. Teubner, Stuttgart, 1997
Schiek, B.: Grundlagen der Hochfrequenz-Messtechnik, Springer-Verlag, Berlin, 1999 Hiebel,M.: Grundlagen der vektoriellen Netzwerkanalyse, München: Rohde & Schwarz GmbH, 2006 Rauscher,Ch.: Grundlagen der Spektrumanalyse, München: Rohde & Schwarz GmbH, 2004 Dunsmore, J.P.: Handbook of Microwave Component Measurements Hoboken, NJ: John Wiley & Sons, 2012 Bonaguide,G.; Jarvis,N.: The VNA Applikation Handbook, Boston, London: Artech House, 2019
- ECTS-Informationen:
- Title:
- Microwave Measurements
- Credits: 5
- Prerequisites
- Electronic Components III
Microwave Engineering I and II
- Contents
- The course starts with the presentation of the international unit system SI, its
meaning for international trade and the representation of the SI-units at the
national institutes of standards. The special features of microwave
measurements (transit time, mutual coupling, skin-effect) will be presented.
Following, the generation principles of high frequency signals in relation to
frequency stability, variation band and power. Six main topics concentrate on
the measurement methods of RF-power, the n-port characterisation by means of
scattering matrix S (linear and non-linear), the measurements of reflection and transmission coefficients
(both magnitude and phase), measurements of frequency and spectrum, noise
measurements and the use of resonators as measuring tools. All methods will be
analysed and sources of measurement errors will be given. Depending on the
application signal representation is done in frequency or time domain. Besides
the goal of effective measurement methods for laboratory use in research and
production, it is still very important to represent a measured signal using the
basic SI-units. Additionally, the use of a computer to control several
measurement devices and their data streams allows processing the data using
mathematic and graphic tools in a comfortable way.
- Literature
- Schiek, B.: Grundlagen der Hochfrequenz-Messtechnik, Springer-Verlag, Berlin,1999
Thumm, M., Wiesbeck, W., Kern, S.: Hochfrequenzmeßtechnik.
B.G. Teubner, Stuttgart, 1997
- Zusätzliche Informationen
- Schlagwörter: Hochfrequenz, Mikrowelle, Messtechnik
Erwartete Teilnehmerzahl: 12
www: http://www.lhft.eei.fau.de
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester SS 2020:
- Hochfrequenzmesstechnik (HFM)
- Institution: Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
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