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Test Integrierter Schaltungen (TEST)- Dozent/in
- Prof. Dr.-Ing. Klaus Helmreich
- Angaben
- Vorlesung
2 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 2,5
nur Fachstudium, Sprache Deutsch
Zeit und Ort: Do 10:15 - 11:45, HF-Technik: SR 5.14
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WPF ME-BA-MG4 5-6
WF EEI-BA-MIK 4-6
WF EEI-MA-MIK 1-3
WPF IuK-MA-ES-EEI 1-3
WPF IuK-MA-REA-EEI 1-3
WPF ICT-MA-ES 1-4
WPF ME-MA-MG4 1-3
- Inhalt
- 1. Test in der Halbleiterfertigung:
Einordnung innerhalb der Halbleiterindustrie,
wirtschaftliche Bedeutung im Vergleich zu Entwurf und Fertigung.
2. Messen und Testen:
Meßunsicherheit, Fehlerschranken, statistische Schätzung,
Umgang mit Meßunsicherheit, Entscheidung aufgrund von Meßdaten, Irrtumsrisiken, Interpretation von Testergebnissen.
3. Fehler und Tests:
Klassifizierung von Fehlern,
Test im Herstellungsprozess und im Produktzyklus.
4. Testkosten und Prüfstrategie:
Zehnerregel, Testkomplexitätsmaße, Abwägung Testkosten/Testgüte,
Summenausbeute, Fehlerüberdeckung, Ausfallrate.
5. Testansätze und Testgenerierung:
Notwendigkeit von Produktionstest und Zuverlässigkeitstest,
Simulation und Test, Parametertest, Funktionstest, Strukturtest,
Fehlermodelle, Testmustererzeugung.
6. Testsysteme:
Entwicklungsgeschichte, Testsystemtypen,
Anforderungen und Leistungsmerkmale,
Komponenten und Funktionsweise.
7. Testbeschreibung:
Prüfprogramm und Prüfmuster, Zeitsteuerung, Systemarchitekturen,
Speicherbedarf, Signalformate, Sonderfunktionen.
8. Mixed-Signal Test:
Instrumentierung, digitale Signalverarbeitung, kohärentes Testen,
Beispiel: Tests an einem A/D-Umsetzer, Histogrammmethoden,
Auswertung im Frequenzbereich.
9. Test weiterer Schaltungsklassen:
Speicher, Hochfrequenzschaltungen, SOCs/SIPs
10. Testfreundlicher Entwurf:
Ad-hoc-Methoden, strukturspezifische Methoden, Prüfpfadmethoden, BIST
- ECTS-Informationen:
- Title:
- Test of Integrated Circuits
- Credits: 2,5
- Zusätzliche Informationen
- Schlagwörter: Test, integrierte Schaltungen, Fertigung, Mixed-Signal
Erwartete Teilnehmerzahl: 25
Für diese Lehrveranstaltung ist eine Anmeldung erforderlich.
Die Anmeldung erfolgt von Sonntag, 19.4.2020, 00:00 Uhr bis Freitag, 31.7.2020, 23:00 Uhr über: mein Campus.
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester SS 2020:
- Test Integrierter Schaltungen (TEST)
- Institution: Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
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UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
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