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Halbleitercharakterisierung
- Dozent/in
- Prof. Dr. Wolfgang Heiß
- Angaben
- Vorlesung
Online/Präsenz 2 SWS, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 2,5
nur Fachstudium, für FAU Scientia Gaststudierende zugelassen, Sprache Englisch, entspricht der VL Advanced Semiconductors Introduction: Characterization aus der neuen FPO. Anmeldung im StudOn ist für die VL-Zugangsdaten erforderlich.
Zeit und Ort:
- Studienfächer / Studienrichtungen
- PF MWT-MA-WET ab 2 (ECTS-Credits: 2,5)
WPF MWT-MA-WET ab 2 (ECTS-Credits: 2,5)
WPF NT-MA 2 (ECTS-Credits: 2,5)
- ECTS-Informationen:
- Credits: 2,5
- Zusätzliche Informationen
- Erwartete Teilnehmerzahl: 6, Maximale Teilnehmerzahl: 30
- Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
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