UnivIS
Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg © Config eG 
FAU Logo
  Sammlung/Stundenplan    Modulbelegung Home  |  Rechtliches  |  Kontakt  |  Hilfe    
Suche:      Semester:   
 
 Darstellung
 
Druckansicht

 
 
Modulbeschreibung (PDF)

 
 
 Außerdem im UnivIS
 
Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen

Vorlesungsverzeichnis

 
 
Veranstaltungskalender

Stellenangebote

Möbel-/Rechnerbörse

 
 
>>

Pattern Analysis (PA)5 ECTS
(englische Bezeichnung: Pattern Analysis)
(Prüfungsordnungsmodul: Maschinelles Lernen für Zeitreihen)

Modulverantwortliche/r: Christian Riess
Lehrende: Christian Riess


Startsemester: SS 2021Dauer: 1 SemesterTurnus: jährlich (SS)
Präsenzzeit: 60 Std.Eigenstudium: 90 Std.Sprache: Englisch

Lehrveranstaltungen:


Empfohlene Voraussetzungen:

Es wird empfohlen, folgende Module zu absolvieren, bevor dieses Modul belegt wird:

Pattern Recognition (WS 2020/2021)


Inhalt:

This module introduces the design of pattern analysis systems as well as the corresponding fundamental mathematical methods. The topics comprise:

  • clustering methods: soft and hard clustering

  • classification and regression trees and forests

  • parametric and non-parametric density estimation: maximum-likelihood (ML) estimation, maximum-a-posteriori (MAP) estimation, histograms, Parzen estimation, relationship between folded histograms and Parzen estimation, adaptive binning with regression trees

  • mean shift algorithm: local maximization using gradient ascent for non-parametric probability density functions, application of the mean shift algorithm for clustering, color quantization, object tracking

  • linear and non-linear manifold learning: curse of dimensionality, various dimensionality reduction methods: principal component analysis (PCA), multidimensional scaling (MDS), isomaps, Laplacian eigenmaps

  • Gaussian mixture models (GMM) and hidden Markov models (HMM): expectation maximization algorithm, parameter estimation, computation of the optimal sequence of states/Viterbi algorithm, forward-backward algorithm, scaling

  • Markov random fields (MRF): definition, probabilities on undirected graphs, clique potentials, Hammersley-Clifford theorem, inference via Gibbs sampling and graph cuts

Das Modul führt in das Design von Musteranalysesystemen sowie die zugrundeliegenden mathematischen Methoden ein. Die Vorlesung umfasst im Einzelnen:

  • Clustering-Methoden: Soft- und Hard-Clustering

  • Klassifikations- und Regressionsbäume/-wälder

  • parametrische und nicht-parametrische Dichteschätzung: Verfahren sind ML- und MAP-Schätzung, Histogramme, Parzenschätzung, Zusammenhang gefaltete Histogramme und Parzenschätzung, adaptives Binning mit Regressionsbäumen.

  • 'Mean Shift'-Algorithmus: lokale Maximierung durch Gradientenaufstieg bei nicht-parametrischen Dichtefunktionen, Anwendungen des 'Mean Shift'-Algorithmus zum Clustering, Farbquantisierung und Objektverfolgung

  • Linear and Non-Linear Manifold Learning: Curse of Dimensionality, Verschiedene Methode zur Dimensionsreduktion: Principal Component Analysis (PCA), Multidimensionsional Scaling (MDS), Isomap, Laplacian Eigenmaps

  • Gaußsche Mischverteilungsmodelle (GMM) und Hidden-Markov-Modelle (HMM): 'Expectation Maximization'-Algorithmus, Parameterschätzung, Bestimmung der optimalen Zustandsfolge/Viterbi-Algorithmus, Vorwärts-Rückwärts-Algorithmus, Skalierung

  • Markov-Zufallsfelder: Definition, Wahrscheinlichkeiten auf ungerichteten Graphen, Cliquen-Potenziale, Hammersley-Clifford-Theorem, Inferenz mit Gibbs-Sampling und Graph Cuts

Lernziele und Kompetenzen:

The students

  • explain the discussed methods for classification, prediction, and analysis of patterns,

  • compare and analyze methods for manifold learning and select a suited method for a given set of features and a given problem,

  • compare and analyze methods for probability density estimation and select a suited method for a given set of features and a given problem,

  • apply non-parametric probability density estimation to pattern analysis problems,

  • apply dimensionality reduction techniques to high-dimensional feature spaces,

  • explain statistic modeling of feature sets and sequences of features,

  • explain statistic modeling of statistical dependencies,

  • implement presented methods in Python,

  • supplement autonomously the mathematical foundations of the presented methods by self-guided study of the literature,

  • discuss the social impact of applications of pattern analysis solutions.

Die Studierenden

  • erläutern die behandelten Methoden zur Klassifikation, Vorhersage und Analyse von Mustern,

  • vergleichen und analysieren Methoden des Manifold Learning und wählen für eine vorgegebene Fragestellung eine geeignete Methode aus,

  • vergleichen und analysieren Methoden zur Dichteschätzung und wählen für eine vorgegebene Fragestellung eine geeignete Methode aus,

  • wenden nicht-parametrische Dichteschätzung auf Probleme der Musteranalyse an,

  • wenden Dimensionsreduktion bei hochdimensionalen Merkmalsräumen an,

  • erläutern statistische Modellierung von Merkmalsmengen und Merkmalsfolgen,

  • erklären statistische Modellierung abhängiger Größen,

  • implementieren vorgestellte Verfahren in Python.

  • ergänzen eigenständig mathematische Grundlagen der präsentierten Methoden durch selbstbestimmtes Studium der Literatur

  • diskutieren die gesellschaftlichen Auswirkungen von Anwendungen der Musteranalyse

Literatur:

Begleitende Literatur / Accompanying literature:

  • C. Bishop: Pattern Recognition and Machine Learning, Springer Verlag, Heidelberg, 2006

  • T. Hastie, R. Tibshirani und J. Friedman: The Elements of Statistical Learning, 2nd Edition, Springer Verlag, 2009

  • A. Criminisi and J. Shotton: Decision Forests for Computer Vision and Medical Image Analysis, Springer, 2013

Organisatorisches:

Please join the associated studOn class: https://www.studon.fau.de/crs2955878.html


Weitere Informationen:

Schlüsselwörter: pattern recognition, pattern analysis
www: https://www.studon.fau.de/crs2955878.html

Studien-/Prüfungsleistungen:

UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof