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Einrichtungen >> Technische Fakultät (TF) >> Department Informatik (INF) >> Lehrstuhl für Informatik 5 (Mustererkennung) >>
Verfahren der eingebetteten Klassifikation

Mustererkennungsalgorithmen werden aufgrund leistungsfähiger Mikrocontroller immer öfter auf eingebetteten Systemen realisiert. Diese Mustererkennungssysteme beinhalten meist Elektronik wie z.B. Sensoren, Aktoren, Datenübertragungskomponenten und Mikrocontroller und stellen besondere Ansprüche an Energieverbrauch, Größe, und Rechenzeit. Zu den auf Mikrocontrollern implementierten Teilblöcken der Mustererkennungs-Pipeline gehören die Vorverarbeitung der Sensorsignale, die Merkmalsextraktion sowie die Klassifikation unter Benutzung eines vorausgewählten Klassifikationsalgorithmus.

In diesem Forschungsprojekt sollen Methoden und Algorithmen für den Bereich der eingebetteten Mustererkennung entwickelt werden die die genannten Anforderungen adressieren. Zudem soll im Bereich der anwendungsnahen Forschung der Entwurfsprozess solcher Systeme unterstützt werden. Konkret zielt dies beispielsweise auf eine Analyse des Rechen- und Speicherbedarfs eines Algorithmus ab um eine Aussage hinsichtlich der benötigten Hardware treffen zu können. Ein verwandter Anwendungsfall ist die Auswahl eines geeigneten Klassifikationsalgorithmus bei bekannten Ressourcen (Speicher, Rechenleistung, verfügbare Arithmetik), der die bestmöglichen Klassifikationsergebnisse unter Rücksichtsname der Ziel- Hardware liefert. Ein weiterer wichtiger Punkt ist die Analyse des Gesamtenergieverbrauchs eines Systems. Eingebettete Systeme sind oft batteriebetrieben und müssen eine Mindestlaufzeit auf einer Batterieladung gewährleisten. Die Entwicklung von Methoden zur effizienten Energienutzung ist dabei für viele Anwendungen essentiell. Anwendungen der Mustererkennung in eingebetteten Systemen sind in vielen Bereichen wie der Automobilbranche, Sportelektronik und Medizintechnik zu finden.

Projektleitung:
Prof. Dr. Björn Eskofier

Beteiligte:
Dr.-Ing. Ulf Jensen, Dipl.-Ing. Gabriel Gomez

Stichwörter:
Mustererkennung; Eingebettete Systeme; Klassifikation

Laufzeit: 1.1.2012 - 31.12.2012

Kontakt:
Jensen, Ulf
E-Mail: ulf.jensen@cs.fau.de
Publikationen
Ring, Matthias ; Jensen, Ulf ; Kugler, Patrick ; Eskofier, Björn: Software-based Performance and Complexity Analysis for the Design of Embedded Classification Systems. In: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (Hrsg.) : Pattern Recognition (ICPR), 2012 21st International Conference on (21st International Conference on Pattern Recognition Tsukuba, Japan November 11-15, 2012). 2012, S. 2266-2269. - ISBN 978-4-9906441-1-6
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