Advanced Processes (AP)

	Process Technologies [PT] VORL; 2 SWS; Schein; ECTS: 5,0; Di, 14:15 - 15:45, EE 0.135				PF MAP-S-AP 2	Freund, H. Kaspereit, M. Freitag, D.
	Process Technologies Exercises UE; 1 SWS; Schein; Fr, 10:15 - 11:45, KS II				PF MAP-S-AP 2	Kaiser, M. Freitag, D. Kaspereit, M. Freund, H.
	Reactors [React] VORL; 1 SWS; ECTS: 1,5; starts 18 May, eventually in a digital format, if the situation does not allow face-to-face lectures; Mo, 10:15 - 11:45, 0.85; ab 18.5.2020				PF MAP-S-AP 2	Datsevich, L.
	Thin films: processing, characterization and functionalities. VORL; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1,5; findet aus aktuellem Anlass mittels Zoom-Live-Übertragung statt. Anmeldung im StudOn ist erforderlich. Zugangsdaten zu ZOOM werden über StudOn mitgeteilt.; Mo, 12:15 - 13:45, Raum n.V.; ab 27.4.2020; Vorbesprechung: 21.4.2020, 14:00 - 15:00 Uhr				PF MAP-S-AP 2	Egelhaaf, H.-J.
	Vertiefung Thermische Verfahrenstechnik (VL) [TVT II] VORL; 3 SWS; ECTS: 5; Do, 12:15 - 13:45, H6; Die Vorlesung wird online stattfinden, bis eine Präsenzlehre wieder möglich sein wird. Nähere Informationen zur Vorlesung werden über das entsprechende StudOn Portal vermittelt. Wir bitten Sie, sich daher möglichst bis zum 20.04.20 im StudOn Portal anzumelden.				PF MAP-S-AP 2	Thommes, M. Freitag, D. Müller, K.
	Vertiefung Thermische Verfahrenstechnik (UE) V/UE; 1 SWS; Do, 14:15 - 15:45, KS I				PF MAP-S-AP 2	Thommes, M. Drescher, M. Kriesten, M.
	Thin films: processing, characterization and functionalities (Extension) VORL; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1; Vertiefung zur VL Thin films: processing, characterization and functionalities, findet über ZOOM statt.; die VL findet montags, 12:15 - 13:45 statt; Vorbesprechung: 21.4.2020, 14:00 - 15:00 Uhr				WPF MAP-S-AP ab 2	Egelhaaf, H.-J.