UnivIS
Information system of Friedrich-Alexander-University Erlangen-Nuremberg © Config eG 
FAU Logo
  Collection/class schedule    module collection Home  |  Legal Matters  |  Contact  |  Help    
search:      semester:   
 Lectures   Staff/
Facilities
   Room
directory
   Research-
report
   Publications   Internat.
contacts
   Thesis
offers
   Phone
book
 
 
 Layout
 
short

verbose

printable version

 
 
class schedule

 
 
 Extras
 
tag all

untag all

export to XML

 
 
 Also in UnivIS
 
course list

lecture directory

 
 
events calendar

job offers

furniture and equipment offers

 
 
Departments >> Faculty of Engineering >> Department of Electrical-Electronic-Communication Engineering >>

Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Anmeldung über StudOn; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111
WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Marhenke, J.  
 

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

VORL; 2 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Wed, 8:15 - 9:45, 0.111
  Jank, M.  
 

Excursion Semiconductor Processing

EX; 1 cred.h; certificate; Zeit und Raum n.V.
  Niebauer, M.  
 

Forschungspraktikum am LEB

SL; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>
  Dirnecker, T.  
 

Semiconductor Devices

VORL; 2 cred.h; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Tue, 12:15 - 13:45, H9; single appointment on 22.10.2018, 14:15 - 15:45, H9; to 29.1.2019
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV ab 5
Dirnecker, T.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente

TUT; 2 cred.h; Mon, 12:15 - 13:45, HH; Erster Termin: 03.12.2018
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV 5-6
Stolzke, T.  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente

UE; 2 cred.h; Mon, 14:15 - 15:45, H9; single appointment on 5.2.2019, 12:15 - 13:45, H9; starting 29.10.2018
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF WING-BA-IKS 5
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA ab 5
Stolzke, T.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

SEM; ben. certificate; ECTS: 2,5; Fri, 14:15 - 15:45, 0.111; Bitte beachten Sie den Termin zur Vorbesprechung; Preliminary meeting: 19.10.2018, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111
  Dirnecker, T.  
 

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology

KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.
  Bauer, A.  
 

Semiconductor Power Devices

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Tue, 16:15 - 17:45, 0.111
WPF WING-MA-ET-EN 1-3
WPF WING-MA-ET-EN 5-6
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF MT-MA-MEL ab 1
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

UE; 2 cred.h; Erster Übungstermin am 15.10. entfällt; Mon, 10:15 - 11:45, 0.111, (außer Mon 15.10.2018)
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF WING-MA-ET-EN 1-3
Albrecht, M.  
 

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

VORL; 2 cred.h; Thu, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WF EEI-MA ab 1
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
Erdmann, A.  
 

Übung zu Optical Lithography

UE; 2 cred.h; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Fri, 8:15 - 9:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, (außer Fri 19.10.2018); Mon, 14:15 - 15:45, 0.157-115, (außer Mon 15.10.2018); Keine Übung in der ersten Vorlesungswoche.
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
Erdmann, A.  
 

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Ggf. findet das Praktikum - in Abstimmung mit den Studierenden in der Vorbesprechung - als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Anmeldung über StudOn.; Preliminary meeting: 19.10.2018, 10:00 - 10:30 Uhr, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-4
Niebauer, M.
u.a.
 
 

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar!!; Preliminary meeting: 16.10.2018, 8:30 - 9:30 Uhr, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Stolzke, T.  
     tbd.    Beck, Ch. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Deeg, F. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Frickel, J. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    N.N. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
 

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester 2018/19 nicht angeboten; Zeit und Raum n.V.
WPF ME-MA-P-EEI 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1
Dirnecker, T.  
 

Reinraum- und Halbleiterpraktikum [RRPrak]

PR; 6 cred.h; ECTS: 5; Teilnahme an der Vorbesprechung am 18.10. ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.
PF NT-BA 5 Marhenke, J.
Dirnecker, T.
 
     Thu8:00 - 11:00, 13:00 - 16:000.111  Matthus, Ch.D. 
     Thu8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00BR 1.161  N.N. 
     Thu
Thu
9:00 - 13:00
14:00 - 18:00
BR 1.161, 0.111
BR 1.161
  Matthus, Ch.D. 
 Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.
 

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]

SEM; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Fri, 10:15 - 11:45, 0.111, (außer Fri 29.3.2019); to 19.4.2019
  Stolzke, T.
Dirnecker, T.
 
 

Seminar on Theses

SEM; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, 0.111, (außer Fri 29.3.2019); to 19.4.2019; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
  Dirnecker, T.
Stolzke, T.
 
 

Technology of Semiconductor Manufacturing Equipment

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Veranstaltung wird voraussichtlich als Blockveranstaltung durchgeführt. Interessenten wenden sich bitte direkt an den Dozenten Prof. Pfitzner.; Nach Vereinbarung. Bitte wenden Sie sich bei Interesse an den Dozenten.; Preliminary meeting: 24.10.2018, 15:00 - 15:45 Uhr
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WPF ME-BA-MG10 3-6
WPF ME-MA-MG10 1-3
WF WW-DH-EL 7-13
Pfitzner, L.
Schmutz, W.
 
 

Technology of Integrated Circuits

VORL; 3 cred.h; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Mon, 10:15 - 12:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF BPT-MA-E 1-3
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

UE; 1 cred.h; Mon, 13:00 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Niebauer, M.  
 

Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 4; Mon, 16:15 - 17:45, 0.111; nach Vereinbarung (Kontakt: peter.pichler@iisb.fraunhofer.de)
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  
 

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

UE; 1 cred.h; ben. certificate; Erster Termin der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben.
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  


UnivIS is a product of Config eG, Buckenhof