Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology
SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Anmeldung über StudOn; Kenntnisse aus "Technologie integrierter Schaltungen" und/oder "Prozessintegration" werden vorausgesetzt.; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111; Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist obligatorisch.
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WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
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Marhenke, J.
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Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]
VORL; Online/Präsenz; 2 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235071.html; Wed, 8:15 - 9:45, 0.111
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WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
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Jank, M.
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Forschungspraktikum am LEB
SL; Online/Präsenz; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>
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Dirnecker, T.
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Semiconductor Devices
VORL; Online; 2 cred.h; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Wed, 14:15 - 15:45; Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235231.html
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WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA-BV ab 5
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Dirnecker, T.
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Tutorium Halbleiterbauelemente
TUT; Online; 2 cred.h; Mon, 8:15 - 9:45; Erster Termin: wird noch bekanntgegeben
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PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
WPF MT-BA-BV 5-6
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Martens, Ch.
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Übungen zu Halbleiterbauelemente
UE; Online; 2 cred.h; Mon, 14:15 - 15:45
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WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA ab 5
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Martens, Ch.
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Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]
SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Tobias Dirnecker (tobias.dirnecker@fau.de)
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Dirnecker, T.
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Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology
KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.
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Bauer, A.
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Semiconductor Power Devices
VORL; Online; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Thu, 16:15 - 17:45; Vorlesung wird aufgezeichnet und über das FAU-Videoportal zur Verfügung gestellt.
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WPF WING-MA-ET-EN 1-3
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
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Erlbacher, T.
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Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente
UE; Online; 2 cred.h; Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235086.html; Wed, 8:15 - 9:45
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WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF WING-MA-ET-EN 1-3
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Stolzke, T.
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Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling
VORL; Online; 2 cred.h; Die Vorlesung findet voraussichtlich über Zoom statt. Weitere Hinweise finden Sie im StudOn-Kurs zur Vorlesung.; Thu, 10:15 - 11:45
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WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
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Erdmann, A.
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Übung zu Optical Lithography
UE; Online; 2 cred.h; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Tue, 16:15 - 17:45, BR 1.161
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WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
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Erdmann, A.
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Laboratory on Semiconductor and Device Metrology
PR; Online/Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Das Praktikum wird voraussichtlich als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit stattfinden. Ein Termin zur Vorbesprechung wird zu Beginn des Semesters bekannt gegeben.
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WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-4
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Niebauer, M.
u.a.
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Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]
PR; Online/Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Nur EEI-BA Mikroelektronik; Der Vorbesprechungstermin ist eine Pflichtveranstaltung und muss wahrgenommen werden.
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WPF EEI-BA-MIK 5-6
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Stolzke, T.
Dirnecker, T.
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| tbd. | | | |
Deeg, F. |
| Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| tbd. | | | |
Stolzke, T. |
| Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| tbd. | | | |
Frickel, J. |
| Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| tbd. | | | |
Beck, Ch. |
| Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]
PR; Online/Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester nicht angeboten
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WPF ME-MA-P-EEI 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1
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Dirnecker, T.
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Reinraum- und Halbleiterpraktikum [RRPrak]
PR; Online/Präsenz; 6 cred.h; ECTS: 5; Teilnahme an der Vorbesprechung (über Zoom; Uhrzeit wird noch bekannt gegeben) ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.; Preliminary meeting: 5.11.2020
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PF NT-BA 5
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Marhenke, J.
Dirnecker, T.
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| Thu | 8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00 | 0.111 | |
Marhenke, J. Assistenten |
| Thu | 8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00 | BR 1.161 | |
Dirnecker, T. Assistenten |
| Thu Thu | 9:00 - 13:00 14:00 - 18:00 | BR 1.161, 0.111 BR 1.161 | |
Assistenten |
| Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn. |
Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]
SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Fri, 10:15 - 11:45, 0.111
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Stolzke, T.
Dirnecker, T.
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Seminar on Theses
SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, 0.111; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
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Dirnecker, T.
Stolzke, T.
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Technology of Integrated Circuits
VORL; Online; 3 cred.h; ECTS: 5; https://www.studon.fau.de/crs3251753.html; Vorlesung wird aufgezeichnet und über das FAU-Videoportal zur Verfügung gestellt.
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WPF BPT-MA-E 1-3
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
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Erlbacher, T.
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Übung zu Technologie integrierter Schaltungen
UE; Online; 1 cred.h; Veranstaltung wird ohne Präsenztermine im digitalen Format angeboten (StudOn)
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PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
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Niebauer, M.
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Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits
VORL; Online; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 4; Vorlesung findet digital statt. Anmeldung zur Vorlesung bitte per Email an den Dozenten: peter.pichler@fau.de; Mon, 10:15 - 11:45; Vorlesung findet wöchentlich (Mo 10:15 - 11:45) digital statt.
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WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
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Pichler, P.
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Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen
UE; Online; 1 cred.h; ben. certificate; Weitere Informationen zur Übung werden in der Vorlesung bekannt gegeben.
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WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
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Pichler, P.
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