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Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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Praktikum Mikroelektronik [PrakMikro] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Tobias Stolzke, Tobias Dirnecker
- Angaben:
- Praktikum, 3 SWS, Schein, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Nur EEI-BA Mikroelektronik; Der Vorbesprechungstermin ist eine Pflichtveranstaltung und muss wahrgenommen werden.
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF EEI-BA-MIK 5-6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar.
| | | n.V. | | | |
Beck, Ch. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| | n.V. | | | |
Deeg, F. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| | n.V. | | | |
Stolzke, T. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| | n.V. | | | |
Frickel, J. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
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Reinraum- und Halbleiterpraktikum [RRPrak] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Julius Marhenke, Tobias Dirnecker
- Angaben:
- Praktikum, 6 SWS, ECTS: 5, nur Fachstudium, Teilnahme an der Vorbesprechung (über Zoom; Uhrzeit wird noch bekannt gegeben) ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.
- Termine:
- Vorbesprechung: Donnerstag, 5.11.2020
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- PF NT-BA 5
| | | Do | 8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00 | 0.111 | |
Marhenke, J. Assistenten | |
| | Do | 8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00 | BR 1.161 | |
Dirnecker, T. Assistenten | |
| | Do Do | 9:00 - 13:00 14:00 - 18:00 | BR 1.161, 0.111 BR 1.161 | |
Assistenten | |
Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn. |
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Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen -
- Dozent/in:
- Peter Pichler
- Angaben:
- Vorlesung, 2 SWS, benoteter Schein, ECTS: 4, Vorlesung findet digital statt. Anmeldung zur Vorlesung bitte per Email an den Dozenten: peter.pichler@fau.de
- Termine:
- Mo, 10:15 - 11:45, Raum n.V.
Vorlesung findet wöchentlich (Mo 10:15 - 11:45) digital statt.
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
- Schlagwörter:
- Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung
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