UnivIS
Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg © Config eG 
FAU Logo
  Sammlung/Stundenplan    Modulbelegung Home  |  Rechtliches  |  Kontakt  |  Hilfe    
Suche:      Semester:   
ACHTUNG: seit 15.06.2022 werden Lehrveranstaltungen nur noch über Campo verwaltet. Diese Daten in UnivIS sind nicht mehr auf aktuellem Stand!
 
 Darstellung
 
Druckansicht

 
 

  Basics in Nanomaterials and Nanotechnology 2 - Nano Characterization (B_Nano2)

Dozentinnen/Dozenten
Prof. Dr. rer. nat. habil. Erdmann Spiecker, Prof. Dr. Patrik Schmuki, Dr. Michael Höhlinger, u. Mitarbeiter

Angaben
Vorlesung
Online/Präsenz
2 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 2,5
für FAU Scientia Gaststudierende zugelassen, Sprache Englisch
Zeit und Ort: Di 16:15 - 17:45, 0.68

Studienfächer / Studienrichtungen
PF MAP-K 2 (ECTS-Credits: 2,5)

Inhalt
Part 1:
  • Basics of electron microscopy

  • Electron matter interaction

  • Electron diffraction

  • Imaging (BF, DF, HR(S)TEM)

  • Examples

Part 2:

  • surface analysis

  • AFM/STM

  • XPS/UPS

  • Tof-SIMS/LEIS

  • XRD and diffraction methods

  • SFG and optical methods

  • Examples

ECTS-Informationen:
Credits: 2,5

Zusätzliche Informationen
Erwartete Teilnehmerzahl: 27, Maximale Teilnehmerzahl: 40

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
Startsemester WS 2022/2023:
Basics in Nanomaterials and Nanotechnology 1+2: Mechanical and Optical Propterties and Nano Characterization (B_Nano1+2)

Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof