Praktika
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Grundpraktikum Reaktionstechnik für Technische Chemie [Prakt RT-TC]
PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 3; für Studenten, die vor dem Wintersemester 1998/1999 in das Hauptstudium getreten sind; Zeit n.V., T 0.77
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Schwieger, W.
Steidl, G.
May, A.
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Grundpraktikum Reaktionstechnik für Verfahrenstechnik [Prakt RT-VT]
PR; 2 SWS; Schein; ECTS: 2; Lehrstuhl für Technische Chemie I, für Studenten, die vor dem Wintersemester 1998/1999 in das Hauptstudium getreten sind.; Zeit n.V., T 0.77
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Schwieger, W.
Schirmer, J.
Walter, S.
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Praktikum zur Reaktionstechnik (Kernfach) / Practical to Chemical Reaction Engineering (B.Sc.) [Prak RT Kern]
PR; 2 SWS; Schein; ECTS: 2; Announcement in lecture
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Schwieger, W.
May, A.
Schirmer, J.
Walter, S.
Steidl, G.
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PR; ben. Schein; ECTS: 7,5; Lehrstuhl für Technische Chemie I; 6 Wochen ganztg. oder 12 Wochen halbtg.; Zeit und Raum n.V.
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Emig, G.
Assistenten
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Praktikum zu Feinreinigungstechnik [PR]
PR; 1 SWS; Schein; ECTS: 1,0; Lehrstuhl für Technische Chemie II; Zeit und Ort nach Vereinbarung
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König, A.
Riedl, W.
Schreiner, A.
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PR; 2 SWS; Schein; ECTS: 2,0; Lehrstuhl für Technische Chemie II; Zeit und Ort nach Vereinbarung
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Steiner, R.
Drescher, M.
Heydrich, G.
Prell, W.
Riedl, W.
Richter, D.
Schreiner, A.
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Studienarbeiten in chem.-techn. Trennverfahren [PR]
PR; ben. Schein; ECTS: 7,5; Lehrstuhl für Technische Chemie II; 6 Wochen (ganztg.) oder 12 Wochen (halbtg.)
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Steiner, R.
König, A.
Wenzel, H.
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Grundpraktikum Technische Thermodynamik
PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2; Zeit/Ort n.V.
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Leipertz, A.
Seeger, Th.
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Praktikum zu Verbrennungstechnik
PR; 2 SWS; Schein; ECTS: 1; Ort/Zeit n.V.
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Leipertz, A.
Dinkelacker, F.
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Praktikum Strömungsmechanik nicht-newtonscher Fluide
PR; 2 SWS; ECTS: 2; Zeit und Raum n.V.
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Brunn, P.
Wunderlich, Th.
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PR; 2 SWS; Schein; ECTS: 2; s. Aushang (Lehrstuhl für Mechanische Verfahrenstechnik, Cauerstraße 4)
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Assistenten
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PR; 2 SWS; Schein; ECTS: 2; s. bes. Ankündigung
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Jarmer, D.
Müller, M.
Plappert, S.
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PR; 1 SWS; Schein; ECTS: 1; Mi, 10:00 - 14:00, Raum n.V.; s.t. Siehe Aushang des Lehrstuhls
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Neeße, Th.
Breiter, R.
Dück, J.
Schneider, M.
Zvetanov, E.
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